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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
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德國EPK進(jìn)口涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100功能
|
型號 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
|
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 |
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應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1 |
1 |
10 |
99 |
|
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
|
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) |
- |
1 |
500 |
500 |
|
數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
|
MINITEST統(tǒng)計計算功能 |
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|
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
|
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
|
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
|
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
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存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
- |
- |
- |
√ |
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分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 |
- |
- |
√ |
√ |
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顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
- |
√ |
√ |
√ |
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其他功能 |
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透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
- |
√ |
√ |
√ |
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在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
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利用計算機進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
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補償一個常數(shù)(Offset) |
- |
- |
√ |
√ |
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外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 |
- |
√ |
√ |
√ |
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保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 |
√ |
√ |
√ |
√ |
|
更換電池是存儲數(shù)值 |
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√ |
√ |
√ |
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設(shè)置極限值 |
- |
- |
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√ |
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公英制轉(zhuǎn)換 |
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√ |
√ |
√ |
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連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值 |
- |
- |
√ |
√> |
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連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
- |
- |
√ |
√> |
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浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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組內(nèi)單值延遲顯示 |
- |
√ |
√ |
√ |
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連續(xù)測量模式中顯示*小值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
|
探頭 |
量程 |
低端 |
誤差 |
*小曲率 |
*小測量 |
*小基 |
探頭尺寸 |
|
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
|
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x170mm |
|
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
|
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
|
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
|
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
|
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
|
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
|
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x170mm |
|
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
|
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
|
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
|
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無限制 |
φ17x80mm |
|
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F：0.5mm |
φ15x62mm |
|
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F：0.5mm |
φ21x89mm |
|
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F：0.5mm |
φ15x62mm |
注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
探頭圖示
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FN1.6 |
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|
FN1.6P |
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F05 |
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|
F1.6 |
|
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|
|
F3 |
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||
|
|
F1.6/90 |
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|
||
|
|
F10 |
|
|
||
|
|
F20 |
|
|
||
|
|
F50 |
|
|
||
|
|
N02 |
|
|
||
|
|
N0.8Cr |
|
|
||
|
|
N1.6 |
|
|
||
|
|
N1.6/90 |
|
|
||
|
|
N10 |
|
|
||
|
|
N20 |
|
|
||
|
|
N100 |
|
|
||
|
|
CN02 |
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